愛德萬T5503HS測試系統 高效率

作者: 新竹訊 | 中時電子報 – 2014年2月20日 上午5:50

工商時報【新竹訊】

瞄準DDR4與LPDDR4記憶體於行動電子裝置及伺服器的廣泛應用需求,全新T5503HS測試系統提供可升級設計,實現高性能低成本效益。

半導體測試設備領導者愛德萬測試宣佈發表專為新一代記憶IC所設計的最新測試解決方案,以滿足行動裝置與伺服器市場對新一代記憶IC的強勁需求,此套最新測試解決方案T5503HS延續廣為業界採用的T5503架構並加以改進,提供高速平行同測、完整相容性,並加入可升級設計,創造業界最佳性能,實現高產能低測試成本效益。

隨著可上網功能的行動裝置與相關支援伺服器在資料處理量不斷激增之下,高速高容量記憶晶片製造商亟需具成本競爭力的測試解決方案加速推出新興DDR4-SDRAM與LPDDR4-SDRAM記憶體等新產品上市,愛德萬測試全新T5503HS系統可提供符合記憶體製造商需求之功能,同時降低測試成本。

愛德萬測試記憶體測試事業執行副總裁山田弘益表示:「這套新測試系統是一套最能滿足新一代DDR4-SDRAM與LPDDR4-SDRAM記憶體測試需求的解決方案,因為T5503HS可提供最高測試效率,讓客戶獲得最大資本投資回報。」,T5503HS測試速度最高可達4.5Gbps,此速度足以因應現今最高階雙倍資料傳輸速度記憶體最高4.266Gbps運作頻率,藉由cyclic redundancy check 與CA parity codes,比對I/O資料傳輸率與待測裝置位址,確保達到最高測試速度,且簡化新測試程式的開發流程,減少工作負擔,縮短新半導體設計上市時程。

T5503HS對DDR4-SDRAM的並列同測能力最高可達512個元件,且客戶現有T5503測試機台也能直接升級,應用於新一代元件測試,擴大投資回報率(ROI)。此外這套全新測試系統也提供source-synchronous功能,有助於提升產出率和產能;T5503HS的系統硬體中還內建了timing-training 功能,比起現今市場上的傳統系統更能快速找出解決方案,測試時間也勝過軟體導向的測試系統。

T5503HS其他功能還包括:individual level settings、I/O dead band取消、data-bus inversion(DBI)等,這些功能將進一步降低資料傳輸延遲率,使T5503HS成為所有高速記憶體的最佳測試系統選擇。愛德萬測試將於SEMICON Korea韓國國際半導體展中展出,並預計於今年第2季開始出貨。

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